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影响涂层测厚仪测量值准确性的因素

   影响涂层测厚仪测量值准确性的因素
  1、基体金属磁性质
  磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
  基体金属的导电性能对测量结果有影响,基体金属的电导率与其材料组成和热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
  2、基体金属厚度
  每个仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于此厚度,测量不受基体金属厚度的影响。
  3、边缘效应
  该仪器对样品表面形状的陡度很敏感。因此,在试样边缘或内角附近测量是不可靠的。
  4、 曲率
  试样的曲率对测量有影响。这种效应总是随着曲率半径的减小而增大。因此,弯曲试样表面的测量是不可靠的。
  5、试件的变形
  头部使软盖标本变形,因此无法在这些标本上测量到可靠的数据。
  6、表面粗糙度
  基体金属和涂层的表面粗糙度对测量有影响。随着粗糙度的增加,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差。在每次测量中,应增加不同位置的测量次数,以克服这一偶然误差。如果基体金属是粗糙的,也必须从粗糙度相似的未涂层基体金属试样上取下几个位置,或者,在涂层用不腐蚀基体金属的溶液溶解后,必须再次检查仪器的零点。
  7、附着物质
  该仪器对防止探针与覆盖面紧密接触的粘着材料很敏感。因此,必须除去附着物,以确保探头与试件表面直接接触。
  8、 测头压力
  测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。
  9、测头的取向
  测头的位置对测量有影响。测量时,测头应垂直于样品表面。

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